微分干涉金相顯微鏡的應(yīng)用和特點(diǎn)

微分干涉金相顯微鏡的應(yīng)用

   微分干涉金相顯微鏡在工業(yè)上應(yīng)用還不算很多，現(xiàn)在上海巴拓儀器有限公司就給大家概略一下微分干涉金相顯微鏡特點(diǎn)給大家介紹一下，希望能幫您更好的了解微分干涉顯微鏡并且能應(yīng)用它。

    在材料顯微分析如何使用微分干涉相襯法微分干涉相襯法(DIC)作為一種極具前途的分析檢驗(yàn)方法，具有對(duì)金相樣品的制備要求較低，所觀察到的樣品各組成相間的相對(duì)層次關(guān)系突出，呈明顯的浮雕狀，對(duì)顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等能作出正確的判斷，能夠容易判斷許多明場(chǎng)下所看不到的或難于判別的一些結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)或缺陷，可進(jìn)行彩色金相攝影等優(yōu)點(diǎn)。但在目前的金相檢驗(yàn)工作中，DIC法還利用得很少。     

    金相顯微鏡檢驗(yàn)方法中，微分干涉相襯法(DIC)是金相檢驗(yàn)的一種強(qiáng)有力的工具，其特點(diǎn)主要為:     

1、對(duì)金相樣品的制備要求降低，對(duì)于某些樣品，甚至只需拋光而不必腐蝕處理即可進(jìn)行觀察。優(yōu)點(diǎn)是可以觀察到樣品表面的真實(shí)狀態(tài)，如將試樣拋光后在真空下發(fā)生馬氏體相變，不用腐蝕就可以觀察到馬氏體的相變浮凸。

2、所觀察到的表面具有明顯的凹凸感，呈浮雕狀，樣品各組成相間的相對(duì)層次關(guān)系都能顯示出來(lái)，對(duì)顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等都能作出正確的判斷，提高了金相檢驗(yàn)準(zhǔn)確性，同時(shí)也增加了各相間的反差。   

3、用微分干涉相襯法觀察樣品，會(huì)看到明場(chǎng)下所看不到的許多細(xì)節(jié)，明場(chǎng)下難于判別的一些結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)或缺陷，可通過(guò)微分干涉進(jìn)行反差增強(qiáng)而容易判斷。   

4、微分干涉相襯法基于傳統(tǒng)的正交偏光法，又巧妙地利用了在渥拉斯頓棱鏡基礎(chǔ)上改良的DIC 棱鏡和補(bǔ)色器(λ-片)等，使所觀察的樣品以光學(xué)干涉的方法染上豐富的色彩，從而可利用彩色膠卷或者數(shù)碼產(chǎn)品(CCD 攝像頭以及數(shù)碼相機(jī))進(jìn)行彩色金相顯微攝影。由于微分干涉相襯得效果與樣品細(xì)節(jié)的浮雕像以及色彩都是可以調(diào)節(jié)的，因而比正交偏光更為優(yōu)越。